ZX-3測厚儀 ZX-3測厚儀 深圳華清儀器儀表有限公司銷售超聲波探傷儀，超聲波測厚儀，磁粉探傷儀，探頭線，探頭，試塊，耦合劑，黑油反差劑，等等 如需其他型號請來電咨詢
ZX-3/5/5/DL 采用超聲反射技術可以用單面測量法快速、準確地測量物體的壁厚，比傳統的游標卡尺等壁厚測量方式更快捷方便，適用范圍也更廣。
型號
頻率
晶片直徑
測量范圍（鋼）
說明
PT-102-2000
5.0MHz
φ6.3mm
1.0～152mm
標準探頭
PT-101-2000
φ4.7mm
1.5～50mm
小管徑探頭
PT-104-0000
1.0MHz
φ12.7mm
3.8～50.8mm(鑄鐵中)
鑄鐵探頭
PT-102-1000
2.25MHz
1.5～100mm
低頻探頭
PT-102-3300
7.5MHz
0.63～152mm
超薄探頭
PT-104-2000
1.27～500mm
超厚探頭
PT-042-2000
高溫探頭，高℃
PT-044-2000
高溫探頭，高340℃
PT-212-2001
1.0～150mm
高溫探頭，高482℃
PT-214-2001
φ12.7.3mm
注：用高溫探頭測量高溫表面時必需用配套的高溫耦合劑。
測量鋼、鑄鐵、塑料、玻璃、鋁、銅等材料的厚度
120MHz FPGA采樣率，150V方波脈沖發生器
增益可調節（40-52dB）
增益步進間距3dB（vlow, low, med, high, vhi 五檔）
手動或自動調零
低溫型（-30℃）LCD顯示屏
USB-C型通訊接口：輸出數據到計算機（僅ZX-5/5DL)
USB轉串口功能，可選RS232或藍牙模塊（僅ZX-5）
IP65防護等級
掃查測量：自動找出被測材料掃查區域內的薄值