美國GE SEB 4-EN雙晶直探頭
特性
獨立的聲波發射和接收單元
縱波垂直傳輸
小焦距探頭具有非常好的近場分辨率
使用耐磨的塑料延遲塊，即使在粗糙或彎曲的表面也能很好耦合性
延遲塊由一個金屬環保護以防磨損
在焦點內特別適合剩余壁厚的測量
加上特殊的延遲塊（定制產品）能夠在高溫表面測量
應用
近表面的小缺陷探測和評估
焦點內大缺陷以及平行于表面分布的缺陷檢測
腐蝕、銹蝕剩余壁厚的測量（包括高溫情況下測量）
粘結檢測
螺釘，螺栓，銷釘
覆層和堆焊層
軸，桿，方坯芯檢測
粗晶材料
系列
型號
頻率
(MHz)
焦距
(mm)
單晶片尺寸
外觀尺寸
帶寬
接口類型
接口方向
SEB
SEB 1
1
20
Φ21半圓
類型15
40
雙聯
Lemo 00
側裝
SEB 1-EN
SEB 2
2
15
7x18
SEB 2-EN
SEB 2-0°
30
SEB 2-EN-0°
SEB 4
4
12
6x20
SEB 4-EN
SEB 4-0°
25
SEB 4-EN-0°
MSEB
MSEB 2
8
Φ11半圓
類型16
MSEB 2-EN
MSEB 4
10
3.5x10
MSEB 4-EN
MSEB 4-EN-0°
18
MSEB 4-0°
MSEB 5
5
Φ9半圓
SEB KF
SEB 2 KF 5
6
Φ8半圓
類型17
30-60
Microdot
X2
SEB 4 KF 8
SEB 4 KF 8-EN
SEB 5 KF 3
3
SEB 10 KF 3
Φ5半圓
類型18