貝克休斯B4S單晶直探頭ES45保護膜
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系列 |
型號 |
頻率 (MHZ) |
接口方向 |
帶寬 |
晶片直徑 |
接口類型 |
保護膜 |
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BS |
B1S-EN |
1 |
側裝 |
25 |
24mm |
Lemo 01 |
ES45 |
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B1S |
1 |
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B2S |
2 |
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B2.25SE |
2.25 |
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B4S |
4 |
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B5S |
5 |
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B1S-O |
1 |
頂裝 |
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B2S-O |
2 |
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B4S-O |
4 |
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B5S-O |
5 |
應用
用于檢測簡單形狀的工件中平行于表面的缺陷
鍛件、鑄件
金屬材料、玻璃、瓷器、陶瓷和塑料
板材、棒材、方形材
容器、機器零件、殼體
特點
縱波單晶探頭
適合DGS缺陷評判
性能參數誤差小,適合高精度檢測
可更換保護膜,保護探頭不被磨損
柔性保護膜,即使是在粗糙或輕微彎曲的表面上也能很好地耦合
合金壓鑄殼體,堅固耐用
用于高溫檢測時可加裝高溫延遲塊(定制產品)