供應ASTM E164 MAB試塊 TB7150-X
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簡單介紹
供應ASTM E164 MAB試塊 TB7150-X
供應ASTM E164 MAB試塊 TB7150-X
的詳細介紹
供應ASTM E164 MAB試塊 TB7150-X
在幾乎每個應用中都要用到校準試塊和/或參考試塊。奧林巴斯可為用戶提供用于普通材料的角度聲束校準和厚度校準的多種標準試塊。
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1018鋼、304不銹鋼、7075-T6鋁制的試塊一般有現貨（其它材料的試塊需要進行特殊的詢價并了解交貨方式）
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請聯系我們，了解有關未列材料、未列試塊或定制試塊的更詳細信息
校準試塊
所有試塊都使用可追溯到美國國家標準及技術研究所（NIST）的測量設備進行尺寸檢查。經常求購的校準試塊列于下表中。
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類型
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工件編號
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說明
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盒子
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ASTM E164校準
IIW型試塊
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TB7541-X
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符合AASHTO和AWS的1型試塊的要求。校準距離和靈敏度設置。測量角度聲束探頭的折射角度和聲束出射點。美制單位（英寸）。
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F129
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TB1136-X
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美制單位（英寸）試塊，帶有機玻璃塞
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F129
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TB1054-X
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公制單位
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F129
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TB1137-X
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公制單位試塊，帶有機玻璃塞
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F129
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美國空軍
IIW-2校準試塊
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TB5939-X
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IIW型試塊，根據《美國空軍NDI手冊T.O.33B -1-1》。包含用于距離校準的半徑為2英寸和4英寸的切口。帶有3號、5號和8號橫通孔，以及2英寸孔的距離校準標記。
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F129
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RC AWS試塊
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TB7543-X
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根據AWS和AASHTO的要求，確定角度聲束探頭的分辨率能力。
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F157
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SC AWS試塊
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TB7545-X
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根據AWS和AASHTO的要求，進行靈敏度和折射角度的校準。
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F158
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DC AWS試塊
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TB7547-X
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根據AWS和AASHTO的要求，為角度聲束探頭進行距離和聲束步進的校準。
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F159
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DSC AWS試塊
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TB7549-X
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根據AWS和AASHTO的要求，為角度聲束探頭進行距離、靈敏度、折射角度及聲束步進的校準。
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F160
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DS AWS試塊
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TB7551-X
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根據AWS和AASHTO的要求，用于水平線性和dB精度程序的校準試塊。
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F161
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30FBH分辨率參考試塊
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TB7160-X
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評價UT設備的近表面分辨率和缺陷尺寸/深度的靈敏度。帶有3號、5號和8號ASTM平底孔，位于從0.050英寸到1.250英寸之間的10個金屬行程距離處。
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包含
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NAVSHIPS試塊
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TB7567-X
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帶有6個3號橫通孔。用于根據NAVSHIPS 0900-006-3010標準進行距離波幅校準。
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F162
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ASTM E164 MAB試塊
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TB7150-X
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微型角度聲束（ROMPAS）試塊。用于距離、聲束步進、折射角度及靈敏度的校準。厚度為1英寸。
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F197
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ISO 7963鋼制
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TB1065-X
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微型角度聲束試塊。用于距離、聲束步進、折射角度和靈敏度的校準。厚度為25毫米。
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F197
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將工件編號中的“X”替換為以下所列試塊材料對應的編號：1 = 1018鋼，2 = 4340鋼，4 = 7075-T6鋁，5 = 304不銹鋼，8 = 6-4鈦